GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量 被代替

标准号：GB/T 14849.4-2008
中文标准名称：工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
英文标准名称：Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
标准状态：被代替,发布于2008-06-09; 实施于2008-12-01; 被代替于2015-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2008-06-09
实施日期：2008-12-01
中国标准分类号：77.120.10
国际标准分类号：77.120.10
归口单位：全国有色金属标准化技术委员会
执行单位：全国有色金属标准化技术委员会
主管部门：中国有色金属工业协会
起草单位：中国铝业股份有限公司郑州研究院;中国有色金属工业标准计量质量研究所等
被以下标准代替：被GB/T14849.4-2014GB/T14849.4-2014全部代替
相近标准：20073440-T-610 工业硅化学分析方法 第4部分：电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量; GB/T 14849.4-2014 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; 20121954-T-610 工业硅化学分析方法 第4部分：杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; YS/T 1261-2018 铪化学分析方法 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; SJ/T 11698-2018 无铅焊锡化学分析方法 电感耦合等离子体原子发射光谱法; YS/T 630-2016 氧化铝化学分析方法 杂质元素含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; GB/T 11067.4-2006 银化学分析方法 锑量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; 20060817-T-610 钨化学分析方法 钙量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法; 20021920-T-610 银化学分析方法 锑量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法