GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法 现行

标准号：GB/T 20724-2006
中文标准名称：薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
英文标准名称：Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
标准状态：现行,发布于2006-12-25; 实施于2007-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2006-12-25
实施日期：2007-08-01
中国标准分类号：71.040.99
国际标准分类号：71.040.99
归口单位：全国微束分析标准化技术委员会
执行单位：全国微束分析标准化技术委员会
主管部门：国家标准化管理委员会
起草单位：北京科技大学
相近标准：20067042-T-469 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法; 20194209-T-469 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法; 微束分析 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法; GB/T 18907-2002 透射电子显微镜选区电子衍射分析方法; 晶体材料X射线衍射仪旋转定向测定方法; GB/T 18907-2013 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法; 20111324-T-469 微束分析 分析电子显微术 透射电镜选区电子衍射分析方法; GB/T 13761-1992 土工布厚度测定方法; JY/T 0587-2020 多晶体X射线衍射方法通则; DB44/T 653-2009 南珠珍珠层厚度的测定方法