GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法 现行

标准号：GB/T 4326-2006
中文标准名称：非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
英文标准名称：Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
标准状态：现行,发布于2006-07-18; 实施于2006-11-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2006-07-18
实施日期：2006-11-01
中国标准分类号：77.040.01
国际标准分类号：77.040.01
归口单位：中国有色金属工业协会
执行单位：中国有色金属工业协会
主管部门：中国有色金属工业协会
起草单位：北京有色金属研究总院
全部替代标准：GB/T 4326-1984
相近标准：GB/T 4326-1984 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法; 20021939-T-610 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法; SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法; GB/T 1550-2018 非本征半导体材料导电类型测试方法; GB/T 1550-1997 非本征半导体材料导电类型测试方法; 20151793-T-469 非本征半导体材料导电类型测试方法; 非本征半导体材料导电类型测试方法; 20201536-T-339 半导体器件 第14-2 部分：半导体传感器-霍尔元件; 半导体器件 第14-2 部分：半导体传感器-霍尔元件; 20192064-T-339 半导体集成电路 霍尔电路测试方法