GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法 现行

标准号：GB/T 15651.3-2003
中文标准名称：半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
英文标准名称：Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
标准状态：现行,发布于2003-11-24; 实施于2004-08-01; 废止
标准类型：国家标准
标准性质：推荐性
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
中国标准分类号：31.260
国际标准分类号：31.260
归口单位：全国半导体器件标准化技术委员会
执行单位：全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门：工业和信息化部（电子）
起草单位：华禹光谷股份有限公司半导体厂
采标情况：本标准等同采用IEC国际标准：IEC 60747-5-3:1997。
采标中文名称:。
相近标准：GB/T 15651-1995 半导体器件 分立器件和集成电路 第5部分:光电子器件; GB/T 15651.2-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-2部分:光电子器件 基本额定值和特性; 20192064-T-339 半导体集成电路 霍尔电路测试方法; 半导体集成电路 霍尔电路测试方法; GB/T 14028-2018 半导体集成电路 模拟开关测试方法; 20182282-T-339 半导体集成电路 AC/DC测试方法; 半导体集成电路 AC/DC测试方法; 半导体集成电路 模拟开关测试方法; 20154227-T-339 半导体集成电路 模拟开关测试方法; GB/T 15651.4-2017 半导体器件 分立器件 第5-4部分:光电子器件 半导体激光器