GB/T 28634-2012 微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析

标准号：GB/T 28634-2012
中文标准名称：微束分析.电子探针显微分析.块状试样波谱法定量点分析
英文标准名称：Microbeam analysis.Electron probe microanalysis.Quantitative point analysis for bulk specimen using wavelength dispersive X-ray spectroscopy
标准类型：N53
发布日期：2012/7/31 12:00:00
实施日期：2013/2/1 12:00:00
中国标准分类号：N53
国际标准分类号：71.040.99
引用标准：GB/T 4930;GB/T 17359-2012;GB/T 27025-2006;GB/T 27025-2008;ISO 14594
适用范围：本标准规定了应用电子探针或者扫描电镜（SEM）的波谱仪（WDS）,通过电子束与试样相互作用产生的X射线对试样微米尺度体积内的元素进行定量分析的要求。内容包括：——定量分析原理；——本方法涉及的元素、质量分数和标准物质的一般范围；——仪器的一般要求；——有关试样制备、实验条件的选择、分析测量等的基本过程及报告。本标准适用于电子束垂直入射，要求定量分析的试块试样表面平滑、均匀。对仪器和数据处理软件没有特殊的要求。使用者应该从仪器制造厂家获得仪器安装条件、详细的操作程序及仪器说明书。