GB/T 4937.1-2006 半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则

百检网 2021-07-13

标准号：GB/T 4937.1-2006
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法第1部分:总则
英文标准名称：Semiconductor devices. Mechanical and climatic test methods. Part 1: General
标准类型：L40
发布日期：2006/8/23 12:00:00
实施日期：2007/2/1 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.1
引用标准：IEC 60050;IEC 60747;IEC 60748
适用范围：本部分适用于半导体器件（分立器件和集成电路）并为GB/T 4937系列的其他部分建立通用准则。当本部分与相应的详细规范有矛盾时，以详细规范为准。

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