IEC 60749-4-2017 半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验

百检网 2021-07-14
标准号:IEC 60749-4-2017
中文标准名称:半导体器件.机械和气候试验方法.第4部分:湿热,稳态,高加速应力试验
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
标准类型:L40
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:L40
国际标准分类号:31.080.01
引用标准:IEC 60749-5-2003
适用范围:This part of IEC 60749 provides a highly accelerated temperature and humidity stress test (HAST) for the purpose of evaluating the reliability of non-hermetic packaged semiconductor devices in humid environments.

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