GB/T 17574.10-2003 半导体器件集成电路第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范

百检网 2021-07-14

标准号：GB/T 17574.10-2003
中文标准名称：半导体器件集成电路第2-10部分;数字集成电路集成电路动态读/写存储器空白详细规范
英文标准名称：Semiconductor devices-Integrated circuits-Part 2-10:Digital integrated circuits-Blank detail specification for integrated circuit dynamic read/write memories
标准类型：L56
发布日期：2003/11/24 12:00:00
实施日期：2004/8/1 12:00:00
中国标准分类号：L56
国际标准分类号：31.200
适用范围： IEC电子元器件质量评定体系遵循IEC的章程，并在IEC的授权下进行工作。该体系的目的是确定质量评定程序，以这种方式使一个参加国按有关规范要求放行的电子元器件无需进一步试验而为其他所有参加国同样接受。本空白详细规范是半导体器件的一系列空白详细规范之一，并且与下列标准一起使用。

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