标准号：GB/T 5594.2-1985
中文标准名称：电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
英文标准名称：Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio
标准类型：L32
发布日期：1985/11/27 12:00:00
实施日期：1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号：L32
国际标准分类号：31.030
适用范围： 本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。
GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
百检网 2021-07-14
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