GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法

百检网 2021-07-14
标准号:GB/T 5594.2-1985
中文标准名称:电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量 泊松比测试方法
英文标准名称:Test methods for properties of structure ceramic used in electronic components--Test method for Young's elastic modulus and Poisson ratio
标准类型:L32
发布日期:1985/11/27 12:00:00
实施日期:1986/12/1 12:00:00
中国标准分类号:L32
国际标准分类号:31.030
适用范围: 本标准适用于室温下电子元器件结构陶瓷材料的杨氏弹性模量、切变模量和泊松比的测量。

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