KS C IEC 60749-3-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验

百检网 2021-07-14

标准号：KS C IEC 60749-3-2002
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第3部分:外观检验
英文标准名称：Discrete semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 3：External visual examination
标准类型：K46
发布日期：2002/12/31 12:00:00
实施日期：2002/12/31 12:00:00
中国标准分类号：K46
国际标准分类号：31.080.00
适用范围：이 규격은 반도체 소자가 재료, 설계, 구조, 표시 및 마무리 작업이 적용 가능한 구매

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