IEC 60749-31 Corrigendum 1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的)

百检网 2021-07-14

标准号：IEC 60749-31 Corrigendum 1-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第31部分:塑料密封器件的易燃性(内部引起的)
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 31: Flammability of plastic-encapsulated devices (internally induced)
标准类型：L40
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This is Technical Corrigendum 1 to IEC 60749-31-2002 (Dispositifs a semiconducteurs -Methodes d'essais mecaniques et climatiques -Partie31:Inflammabilite des dispositifs a encapsulation plastique (cas d'une cause interne d'inflammation))

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