BS EN 60749-1-2003 半导体器件.机械和气候试验方法.总则

百检网 2021-07-14

标准号：BS EN 60749-1-2003
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.总则
英文标准名称：Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - General
标准类型：L40
发布日期：2003/7/7 12:00:00
实施日期：2003/7/7 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：This part of IEC 60749 is applicable to semiconductor devices (discrete devices and integrated circuits) and establishes provisions common to all the other parts of the series. In the case of contradiction between this standard and a relevant procurement specification, the latter should govern.

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