IEEE N 42.31-2003

百检网 2021-07-14

标准号：IEEE N 42.31-2003
英文标准名称：Measurement Procedures for Resolution and Efficiency of Wide-Bandgap Semiconductor Detectors of Ionizing Radiation
发布日期：2003/2/20 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号：31.080.01
适用范围：Measurement and test procedures are established for wide-bandgap semiconductor detectors such as cadmium-telluride (CdTe) cadmium-zinc-telluride (CdZnTe), and mercuric iodide (HgI2) that can be used at room temperature for the detection and quantitative characterization of gamma-rays, X-rays and charged particles. Standard terminology and descriptions of the principal features of the detectors are included.

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