KS C IEC 60749-14-2006 半导体器件.机械和气候试验方法.第14部分:终端装置的坚固性(引线牢固性)

百检网 2021-07-15

标准号：KS C IEC 60749-14-2006
中文标准名称：半导体器件.机械和气候试验方法.第14部分:终端装置的坚固性(引线牢固性)
英文标准名称：Semiconductor devices－Mechanical and climatic test methods－Part 14：Robustness of terminations(lead integrity)
标准类型：L40
发布日期：2006/11/30 12:00:00
实施日期：2006/11/30 12:00:00
中国标准分类号：L40
国际标准分类号：31.080.01
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