SJ/T 11766-2020 光电耦合器件低频噪声参数测试方法现行

百检网 2021-07-16

标准号：SJ/T 11766-2020
中文标准名称：光电耦合器件低频噪声参数测试方法
标准状态：现行
标准类型：行业标准
发布日期：2020/12/9 12:00:00
实施日期：2021/4/1 12:00:00
中国标准分类号：西安电子科技大学
国际标准分类号：31.080.01
归口单位：基于低频噪声技术的电子元器件可靠性无损检测标准工作组
主管部门：工业和信息化部
起草单位：工业和信息化部电子第五研究所
起草人：余永涛
相近标准：SJ/T 11765-2020 晶体管低频噪声参数测试方法;SJ/T 11768-2020 电阻器低频噪声参数测试方法;SJ
行业分类：无

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