20201546-T-339 半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法 正在征求意见

百检网 2021-07-16
标准号:20201546-T-339
中文标准名称:半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法
英文标准名称:Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
标准状态:正在征求意见
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
国际标准分类号:31.080.01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:工业和信息化部电子第五研究所等
相近标准:  半导体器件 机械与气候试验方法 第44部分:半导体器件的中子辐照单粒子效应(SEE)试验方法;  半导体器件-机械和气候试验
标准制修订:制订

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