GB/T 26070-2010 化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法

百检网 2021-07-19
标准号:GB/T 26070-2010
中文标准名称:化合物半导体抛光晶片亚表面损伤的反射差分谱测试方法
英文标准名称:Characterization of subsurface damage in polished compound semiconductor wafers by reflectance difference spectroscopy method
标准类型:H17
发布日期:2011/1/10 12:00:00
实施日期:2011/10/1 12:00:00
中国标准分类号:H17
国际标准分类号:77.040.99
适用范围:本标准规定了Ⅲ-Ⅴ族化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测试方法。本标准适用于GaAs、InP(GaP、GaSb可参照进行)等化合物半导体单晶抛光片亚表面损伤的测量。

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司