ISO 14706-2014 表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染

百检网 2021-07-19
标准号:ISO 14706-2014
中文标准名称:表面化学分析 用总反射X-射线荧光(TXRF)测定法测定硅晶片的表面基本的污染
英文标准名称:Surface chemical analysis - Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy
标准类型:G04
发布日期:2014/8/1 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:G04
国际标准分类号:71.040.40
引用标准:ISO 5725-2-1994;ISO 14644-1-1999

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司