CNS 5538-1988 单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-小信号用二极体连续动作试验 W

百检网 2021-07-20
标准号:CNS 5538-1988
中文标准名称:单件半导体装置之环境检验法及耐久性检验法-小信号用二*体连续动作试验
英文标准名称:Environmental Testing Methods and Endurance Testing Methods for Discrete Semiconductor Devices (Continuous Operation Test of Small Signal Diodes)
标准状态:W
标准类型:国际标准
发布日期:1988-09-14
有效日期:2017-02-18
国际标准分类号:19.040%19.080%31.080.01

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