QJ 10005-2008 宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南

百检网 2021-07-20
标准号:QJ 10005-2008
中文标准名称:宇航用半导体器件重离子单粒子效应试验指南
英文标准名称:Test guidelines of single event effects induced by heavy ions of semiconductor devices for space applications
标准类型:L40
发布日期:2008/2/16 12:00:00
实施日期:2008/6/1 12:00:00
中国标准分类号:L40
引用标准:GB 4792-1984;GJB 1649-1993;GJB 2712-1996;GJB 3756-1999
适用范围:本指导性技术文件给出了宇航用半导体器件(以下简称器件)重离子辐照引起的单粒子效应的试验指南,包括试验要求、试验方法和试验程序。本指导性技术文件适用的单粒子效应包括单粒子翻转、单粒子锁定、单粒子扰动等。不包括功率MOS器件的单粒子烧毁。本指导性技术文件中的半导体器件包括半导体集成电路和半导体分立器件。

百检能给您带来哪些改变?

1、检测行业全覆盖,满足不同的检测;

2、实验室全覆盖,就近分配本地化检测;

3、工程师一对一服务,让检测更精准;

4、免费初检,初检不收取检测费用;

5、自助下单 快递免费上门取样;

6、周期短,费用低,服务周到;

7、拥有CMA、CNAS、CAL等权威资质;

8、检测报告权威有效、中国通用;

客户案例展示

  • 上海朗波王服饰有限公司
  • 浙江圣达生物药业股份有限公司
  • 天津市长庆电子科技有限公司
  • 上海纽特丝纺织品有限公司
  • 无锡露米娅纺织有限公司
  • 东方电气风电(凉山)有限公司