标准号：DIN50442-1-1981
中文标准名称：半导体无机材料的检验.圆形单晶体半导体薄片表面结构的测定.第1部分:切割和研磨的薄片
英文标准名称：Testingofsemi-conductiveinorganicmaterials;determinationofthesurfacestructureofcircularmonocrystallinesemi-conductiveslices;as-cutandlappedslices
中国标准分类号：H82
国际标准分类号：29.045
DIN50442-1-1981 半导体无机材料的检验.圆形单晶体半导体薄片表面结构的测定.第1部分:切割和研磨的薄片
百检网 2021-07-21
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