ASTM E1162-1987(2001) 二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据

百检网 2021-08-02

标准号：ASTM E1162-1987(2001)
中文标准名称：二次离子质谱法(SIMS)中报告溅射深度截面数据
英文标准名称：Standard Practice for Reporting Sputter Depth Profile Data in Secondary Ion Mass Spectrometry (SIMS)
标准类型：N34
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：N34
国际标准分类号：71.040.50 (Physicochemical methods of analysis)

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