标准号：SJ 20233-1993
中文标准名称：IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
英文标准名称：Verification regulation of model IMPACT-II semiconductor discrete device test sysytem
标准类型：L01
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L01
适用范围：本检定规程规定了IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定条件、检定项目、检定方法、检定结果处理及检定周期。 本检定规程适用于IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统的检定。对于IMPACT-Ⅲ型半导体分立器件测试系统的检定。也可参照本规程进行。
SJ 20233-1993 IMPACT-Ⅱ型半导体分立器件测试系统检定规程
百检网 2021-08-05
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