IEC 60748-20-1-1994 半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求

标准号：IEC 60748-20-1-1994
中文标准名称：半导体器件 集成电路 第20部分:膜集成电路和混合膜集成电路总规范 第1节:内部目检要求
英文标准名称：Semiconductor devices; integrated circuits; part 20: generic specification for film integrated circuits and hybrid film integrated circuits; section 1: requirements for internal visual examination
标准类型：L55
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：L55
国际标准分类号：31.200
适用范围：The purpose is to check the internal materials, construction and workmanship of film and hybrid integrated circuits. These examinations will normally be used prior to tapping or encapsulation to detect and eliminate the F and HFICs with internal defects