SJ/Z 9016-1987 半导体器件机械和气候试验方法

百检网 2021-08-05

标准号：SJ/Z 9016-1987
中文标准名称：半导体器件机械和气候试验方法
英文标准名称：Semiconductor devices--Mechanical and climatic test methods
标准类型：C01
发布日期：1999/12/31 12:00:00
实施日期：1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号：C01
适用范围：本标准列出了适用于半导体器件(分立器件和集成电路)的试验方法。使用时可从中进行选择。对于非空腔器件，可以要求补充的试验方法。注：非空腔器件是指在器件设计中的封装材料与所有管芯的暴露表面紧密接触且没有任何空间的器件。本标准已尽可能考虑了SJ/Z 9001-87(IEC 68号)标准--基本环境试验规程。

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