20184233-T-339 半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的) 正在批准

百检网 2021-08-06
标准号:20184233-T-339
中文标准名称:半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的)
英文标准名称:Semiconductor Devices-Mechanical and Climatic Test Methods–Part 31: Flammability of platic-encapsulated devices(internally induced)
标准状态:正在批准
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:河北中电科航检测技术服务有限公司
国际标准分类号:31.080.01
归口单位:全国半导体器件标准化技术委员会
主管部门:工业和信息化部(电子)
起草单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
起草人:裴选
相近标准:  半导体器件 机械和气候试验方法 第31部分:塑封器件的易燃性(内部引起的);  半导体器件 机械和气候试验方法 第32部
标准制修订:制订

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