20063373-T-469 硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法 已发布

百检网 2021-08-06
标准号:20063373-T-469
中文标准名称:硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
英文标准名称:Test methods for minority carrier lifetime in bulk germanium and silicon by measurement of photoconduetivity decay
标准状态:已发布
标准类型:国标计划
发布日期:1999/12/31 12:00:00
实施日期:1999/12/31 12:00:00
中国标准分类号:H80
国际标准分类号:29.045
归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
主管部门:国家标准化管理委员会
起草单位:峨嵋半导体材料厂
起草人:江莉
相近标准:GB/T 1553-1997  硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法;GB/T 1553-2009  硅和锗体内少数载流子寿
标准制修订:修订

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