DIN 50454-1-2000 DIN 50454-1-2000 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物单晶体错位的测定.第1部分:砷化镓

百检网 2021-08-19
标准号:DIN 50454-1-2000
中文标准名称:DIN 50454-1-2000 半导体工艺材料的检验.Ⅲ-Ⅴ化合物单晶体错位的测定.第1部分:砷化镓
英文标准名称:Testing of materials for semiconductor technology - Determination of dislocations in monocrystals of III-V-compound semi-conductors - Part 1: Gallium arsenide
发布日期:2000-07
中国标准分类号:H83
国际标准分类号:29.045

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