元器件的设计、结构、材料和工艺等任何因素都有可能引起元器件的制造质量不同,导致元器件无法满足预定用途或有关规范的要求;另一方面,在装机后出现的相关问题,将推高整改与制造成本。因此,尽早预防使用有明显或潜在缺陷的元器件,并提出批次处理意见和改进措施,对提高电子元器件的使用可靠性、并*终提升电子设备的质量显得尤为重要。
产品范围:
覆盖所有种类和封装的电子元器件型号,包含:电阻器;电容器;磁珠;电感器;变压器;晶体振荡器;晶体谐振器;继电器;半导体分立器件(二*管、三*管、场效应管、达林顿阵列、半导体光电子器件等);电连接器;开关及面板元件;半导体集成电路(时基电路、总线收发器、缓冲器、驱动器、电平转换器、门器件、触发器、LVDS线收发器、运算放大器、电压调整器、电压比较器、电源类芯片(稳压器、开关电源转换器、电源监控器、电源管理等)、数模转换器(A/D、D/A、SRD)、存储器、可编程逻辑器件、单片机、微处理器、控制器等);滤波器;电源模块;IGBT等。
测试项目 | 测试标准及方法 | 样品要求 |
外部目检 Visual Inspection |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
X光检查 X-ray Inspection |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
粒子噪声检查 PIND |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
物理检查 Physical Check |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
气密性检查 Airproof Check |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
内部水汽 Internal Vapor Analysis |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
开封 Decap |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
内部目检 Internal Inspection |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
电镜能谱 SEM/EDAX |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
超声波检查 C-SAM |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
引出端强度 Terminal strength |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
拉拔力 Pull Test |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
切片 Cross-section |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
粘接强度 Attachment’s strength |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
钝化层完整性 Integrality Inspection for Glass Passivation |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
制样镜检 Sampling with Microscope |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
引线键合强度 bonding strength |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
接触件检查 Contact Check |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |
剪切强度测试 Shear Test |
GJB4027或按客户要求 | 按规范要求进行抽样 |