标准号：GB/T 33236-2016
中文标准名称：多晶硅 痕量元素化学分析 辉光放电质谱法
英文标准名称：Polycrystalline silicon—Determination of trace elements—Glow discharge mass spectrometry method
标准状态：现行
中国标准分类号：(CCS)G04
标准分类号：(ICS)71.040.40
发布日期：2016-12-13
实施日期：2017-11-01
主管部门：标准化管理委员会
归口单位：微束分析标准化技术委员会
主要起草单位
中国科学院上海硅酸盐研究所 。
主要起草人
卓尚军 、钱荣 、董疆丽 、申如香 、盛成 、高捷 、郑文平 。
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