三维形貌轮廓仪

       ContourGT-X是新一代白光干涉仪，结合了先进的64位多核操作和分析处理软件，是历年来来*先进的3D光学表面轮廓仪系统。该系统拥有超大视野内亚埃级至毫米级的垂直计量范围，样品安装灵活，且具有业界*高的测量重复性。ContourGT系列是当今生产研和质量控制应用中，*广泛使用和*直观的3D表面计量平台。

应用范围

       从小至微米级别的微机电器件(MEMS)，大到整个引擎部件，都可以获得表面形貌、粗糙度、三维轮廓、膜厚等数据。对LED行业、太阳能行业、触摸屏行业、半导体行业以及数据存储行业等，提供全方位非接触式测量方案。

检测案例

电路板表面的突起

普通样品的表面粗糙度测量

钢球样品的拼接图片

送样要求

块体样品:1*1cm²即可，如果样品测试的面积比较大(大于1.5mm)，需要根据拼接。

测试说明

1.三维形貌扫描区域—般提供3个区域，对于非均匀样品，不一定保证可以扫到满意结果。

2三维形貌轮廓仪扫描—次*大范围是1.69mm *1.26mm，如果需测试样品表面范围较大，需进行拼接。

3.测试样品的表面需具有一定的反光率,样品台阶的高度不能大于10mm。

4.特殊要求请提前备注说明。