薄膜厚度测量

薄膜厚度测量

我们测量什么?

材料要求:

全都是至少有部分透明的薄膜， 加上所有的半导体 (透明或不透明)。薄膜在外观上至少要有某种程度的光泽。

厚度范围: 

我们能测量从 3nm 到500um 的厚度。能够测量 70nm 到10um 厚薄膜的折射率。

可测量的层数: 

我们通常能够测量某个薄膜堆内的*多三层独立薄膜。 在某些情况下，我们能够测量到几十层。

基板材料: 

如果薄膜位于粗糙基板 (其中包括大多数金属) 上的话， 一般不能测量薄膜的折射率。 此外，粗糙基板还将*低的可测量薄膜厚度限制为大约50nm。

所需的信息: 

我们必须知道目前存在所有薄膜的种类、特征和预估厚度， 

l 以上要求和标准仅供参考，具体测量建议来电和我们专业工程师直接交流。