金鉴实验室 | 电子产品元件中老化性能|可靠性能|电学性能的检测

1.机器型号：高低温冲击试验箱（伟思富奇ShockEvent T/60/V2）

用途：适用于确定无尘材料、电工、电子产品、元器件及军工装备等按国际、国军标要求在经受周围大气温度的急剧变化（温度冲击）时，是否产生物理损坏或性能下降。

2.主要技术参数：

热箱温度范围：+50 °C to +220 °C

冷箱温度范围：-80 °C to +70 °C

热箱或冷箱分别可作为单独温度冲击箱使用

工作室中心点温度波动度：±0.3 K to ±1.0 K

相对设定值的空间温度均匀性：±0.5 K to ±2.0 K

箱体尺寸和重量：

试验空间尺寸:长*宽*高：430 mm*380 mm*370mm

试验箱尺寸:  2150*900 mm*2330

测试空间容积:60L

重量:大约 800kg 净重

3.测试标准：

冲击实验测试标准：

·IEC 60068-2-14 Na

·MIL-STD 810G Method 503.5

·MIL-STD 883K Method 1010.9Severity levels A,B,C,D,F

单独冷箱操作测试标准:

·IEC 60068-2-1, Test A

·JEDEC JESD22-A119

·MIL-STD 810G, Method 502.5

·ESTI EN 300019-2-4, Test Ab /Ad

图为金鉴实验室工程师正在对客户送测样品做冷热冲击测试

LED灯珠样品冷热冲击试验中

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