EN 55024:2010信息技术设备抗扰度特性测试

百检网 2021-11-01
EN 55024:2010信息技术设备 - 抗扰度特性 - 限值和测量方法(CISPR 24:2010)

EN 55024:2010标准范围

国际标准EN 55024:2010适用于信息技术设备(ITE),标准EN 55024:2010将信息技术设备定义为在额定电源电压不超过的情况下运行的任何设备或设备600 V,具有输入,存储,显示,检索,传输,处理,交换,或可能结合所述主功能-信息传送可以使用与一个或多个终端端口的数据和设备的控制的一个主要功能。标准 EN 55024:2010不包括具有无线电传输或接收功能的设备或设备。

分类

国际标准 EN 55024:2010有设备没有具体的总体分类。

例如

PC,通讯设备,办公设备,数据处理设备, ITE配件,便携式电池供电设备。

要求

静电放电(ESD)抗扰度。

电磁场抗扰度。

工频磁场抗扰度。

电源端口的电压骤降和短暂中断抗扰度。

电快速瞬变 - 突发免疫。

浪涌免疫力。

传导射频抗扰度。

测试港口水平性能
静电放电附件8千伏空气排出
4kVcontact放电
电磁场附件80MHz-1GHz3V/m一个
工频磁场附件1A/m一个
交流电源1千伏
直流电源0。5千伏
信号0。5千伏
浪涌交流电源1千伏(线-线)/2千伏(啉GND)
直流电源0。5千伏
信号1kV(线路-GND)C
传导射频交流电源150kHz-80兆赫3V一个
直流电源150kHz-80兆赫3V一个
信号150kHz-80兆赫3V一个
电压骤降交流电源减少100%0。5个循环减少B
30%25个循环C
100%减少250个循环C.

性能标准

标准A

期间和之后的测试EUT应继续按预期无需操作员干预操作。当EUT按预期使用时,不允许性能下降或功能丧失低于制造商规定的*低性能水平。

标准B

在测试期间,允许性能下降,但在测试后不允许操作状态或存储数据的变化。经过测试,EUT应按预期运行,无需操作员干预且不会降级。在按照预期使用EUT时,在应用低于制造商规定的性能水平的现象之后,不允许性能下降或功能丧失。

标准C

在测试期间和测试之后,允许暂时失去功能,但功能应是可自我恢复的,或者可以通过操作控制和/或关闭/打开EUT的电源来恢复,制造商说明。


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