详细信息
主要技术指标：
1．*大测量电阻值：100Gohm/Sq； 2．测试台温度选项：常温，77K； 3. 磁场：3200高斯； 4. 样品电流：1pA-19.9mA 5. 测试样品*大尺寸：Φ=25mm
主要功能：
霍尔系统控制器和温度控制器等部分组成，能实现半导体及其薄膜材料的电学特性测试，可测试高达100G欧姆的高阻材料，同时通过液氮冷却系统可达到对材料的变温测量。具有测试速度快，数据准确的特点。 可应用于各种半导体及其薄膜材料的载流子浓度，电阻率，载流子迁移率及霍尔系数等电学性能的常温或变温测试。
服务信息
服务内容：
实现半导体及其薄膜材料的电学特性测试，可测试高达100G欧姆的高阻材料，同时通过液氮冷却系统可达到对材料的变温测量
收费标准：
室温400；变温2000
用户须知：
按照学校共享规定
