扫描电镜原位纳米力学检测系统

百检网 2021-11-11

1.1原位纳米压入系统，本设备主要用于金属、非金属和薄膜材料SEM电镜中或SEM/FIB双束电镜中静态、动态原位纳米压入力学性能测试和物性参量测量试验；设备需与电镜已有的EBSD及EDS探头附件能够协同工作/兼容.

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