半导体特性分析仪

百检网 2021-11-11
服务领域: 用于实验室级的器件直流参数测试、实时绘图与分析,具有高精度和亚fA级的分辨率。它提供了*先进的系统集成能力,包括完整的嵌入式PC机,Windows操作系统与大容量存储器。其自动记录、点击式接口加速并简化了获取数据的过程,这样用户可以更快地开始分析测试结果。 技术指标: 1.直观的、点击式Windows操作环境 2.独特的远端前置放大器,将SMU的分辨率扩展至0.1fA 3.用于**半导体测试的新型脉冲与脉冲式I-V功能 4.集成了示波与脉冲测量功能的新型示波卡 5.内置PC提供快速的测试设置、强大的数据分析、制图与打印、以及测试结果的大容量存储 6.独特的浏览器风格的软件界面,根据器件的类型来安排测试,可以执行多项测试并提供测试序列与循环控制功能 7.内置了Stress/Measure,循环和数据分析功能,通过鼠标点击方式就可进行可靠性测试,包括5个JEDEC规范的样品测试 8.支持 Keithley590 型与 Agilent 4284/4294型C-V仪、Keithley开关矩阵与Agilent 81110脉冲发生器等多种外围设备 9.硬件由keithley交互式测试环境(KITE)来控制,用户测试模块功能,可用于外接仪表控制与测试平台集成,是KITE功能的扩充 10.包括驱动软件,支持CascadeMicrotech Summit 12K系列、Karl Suss PA-200和PA-300,Micromanipulator 的8860自动和手动探针台 11.支持先进的半导体模型参数提取,包 括IC-CAP和Cadence BSIMProPlus/Virtuoso 生产厂商: Keithley 仪器国别: 启用时间: 2012-01-01 仪器认证: 厂家合格证 安放地点: 主要用途: 半导体特性分析仪 主要附件及功能:

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  • 上海纽特丝纺织品有限公司
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