试验。其目的主要用来确定元件、设备或其他产品在在贮存、运输和使用中对低气压环境的适应性。
GB2421-1989《电工电子产品基本环境试验规程总则》
GB/T2423.25-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AM:低温/低气压综合试验方法》
GB/T2423.26-1992《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/BM :高温/低气压综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB2423.27-2005《电工电子产品基本环境试验规程试验Z/AMD:低温/低气压/湿热连续综合试验方法》
GB/T2424.15-1992《电工电子产品基本环境试验规程温度/低气压综合试验导则》
GB T 2423.21-1991 电工电子产品基本环境试验规程 试验M 低气压试验方法
GJB 150.2-1986军用设备环境试验方法 低气压(高度)试验.