镀层层数检测和每层厚度检测、镀层层数检测和每层厚度检测、镀层层数检测和每层厚度检测
本公司专业承接：金属镍膜层厚度测试检测，金膜层厚度测试检测，金属银膜层厚度测试检测，金属铜膜层厚度测试检测，金属锡膜层厚度测试检测，金属铬膜层厚度测试检测，非金属膜层厚度测试检测等全方面检测
膜厚测试膜层厚度指基体上的金属或非金属覆盖层的厚度，例如PCB板工艺中的Cu/、Ni/Au层，合金上的Ni/Cr覆盖层，塑料件上的金属膜层，金属上的油漆涂层等等
检测行业中常见有以下几种膜厚测试方法：金相测厚、荧光测厚、SEM测厚、XPS深度剖析、台阶测厚等等。各方法适用范围与特点如下
1、金相测厚。使用设备为金相显微镜。此方法适用于测量厚度＞1μm的金属膜层，可同时测量多层。被测样品需要经垂直于待测膜层取样进行金相制样，再在金相显微镜下观察并拍照测量待测膜层厚度。
2、 SEM测厚。使用设备为扫描电子显微镜（SEM）。此方法测试范围宽，适用于测量厚度0.01μm~1mm的金属或非金属膜层。样品前处理与金相测厚相同。配有能谱附件（EDS）的SEM设备可以确定每一层膜层的成分。
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