Type-C插头,又称USB-C,是一种通用串行总线(USB)的硬件接口形式,外观上*大特点在于其上下端完全一致,与Micro-USB相比不再区分USB正反面。
USB Type-C规范1.0由USB***论坛(USB-IF)发布,并于2014年8月完成[1]。与USB 3.1规格大致相同。但USB-C只是一个接口,不一定支持USB 3.x或Power Delivery(许多手机的Type-C仍然使用USB 2.0)[2][3]。自从2014年USB-C规范发布后,许多新款的Android移动设备、笔记本电脑、台式机甚至是游戏机等3C设备开始使用这种连接端口。Windows 10原生支持USB Type-C。
USB Type-C 作为一个新型的连接埠, 不仅支援更快的速度,更有助于制造商打造更轻薄的工业设计产品,同时具有*为强大的可扩充性。 对连接器、连接线产业而言,Type C新规格将带来有如「改朝换代」般的重大变化,**群将可抢食更大的市场商机。号称全世界上**个Type-C的装置-Nokia N1,底部就是Type-C接口,充电线则是附2.0 C对A可充到2安培,充电用的转换器可用在其他手机或平板。也因为苹果的加入,让此商机更蓬勃,新一代的Apple New MacBook只留有一个接口那就是 USB-C(Type-C)连接埠,不管充电、鼠标、键盘都全仰赖它。
Type-C插头温升测试的必要性
如今的USB Type-C线缆允许消费者在功率高达100W的情况下为电池供电的可持式产品充电。这种高功率、快速充电的能力减少了可持式产品必须连接到电源线的时间。
100W容量对于USB线缆来说是相当大的功率。因此,线缆可能会因线缆故障而产生高热积聚。连接器采用封闭式结构,针对针之间的间距较窄,这些针脚的间距为0.5毫米,比USB Type-A连接器小五倍。
灰尘和其他污染物会导致电源和接地针脚之间出现阻性故障。以机械故障而言,如针脚弯曲或绝缘层磨损,也可能导致阻性故障和过电流情况,这些故障可能导致过热,导致线缆故障,并可能损坏正在充电的产品。
因此为了保证产品能够安全稳定工作,对Type-C插头进行温升测试是非常有必要的。
Type-C插头温升测试要求
温升测试必须进行电流温升测试Vbus端子给予**的电流,且在Vconn端子给予1.2**的电流,温度的变化量不能超过30℃。