标准简介
本标准规定了用红外吸收测定硅晶体中间隙氧含量的方法。本标准适用于室温电阻率大于0.1Ω·cm的硅晶体中氧含量的测量。英文名称：The method of determining interstitial oxygen content in silicon by infrared absorption
标准状态：作废
替代情况：替代GB 1557-1983;被GB/T 1557-2006代替
中标分类：冶金>>金属理化性能试验方法>>H21金属物理性能试验方法
ICS分类：77.040.30;
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1989-03-31
实施日期：1990-02-01
作废日期：2006-11-01
页数：平装16开， 页数：6， 字数：8千字
前言
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