GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分：第1篇：半导体集成电路 内部目检 （不包括混合电路）

标准简介

本部分为GB/T19403的一部分，等同采用国际电工委员会标准IEC60748-11-1：1992《半导体器件集成电路第11部分：第1节：半导体集成电路内部目检》。
英文名称：Semiconductor devices—Integrated Circuits—Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits (excluding hybrid circuits)
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2003-11-24
实施日期：2004-08-01
出版日期：2004-08-01
页数：16开， 页数：22， 字数：45千字

前言

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