GB/T 16822-1997 介电晶体介电性能的试验方法

百检网 2022-10-19

标准简介

本标准规定了介电晶体的低频(10MHz以下)介电系数及介电损耗的试验方法。本标准适用于介电晶体的介电性能的测定。
英文名称:Test method for dielectric properties of dielectric crystal
标准状态:现行
中标分类:电子元器件与信息技术>>电子设备专用材料、零件、结构件>>L90电子技术专用材料
ICS分类:电子学>>31.020电子元件综合
发布部门:国家技术监督局
发布日期:1997-05-28
实施日期:1998-02-01
出版日期:2004-04-11
页数:平装16开, 页数:7, 字数:8千字

前言

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