GB/T 17444-1998 红外焦平面阵列特性参数测试技术规范

百检网 2022-10-19

标准简介

本标准所指的焦平面,是敏感红外辐照的光敏阵列并带有读出电路的器件。本标准对焦平面特性参数及相关量进行了定义。本标准给出了焦平面主要特性参数的测试方法及测试条件。本标准适用于线列和面阵焦平面。
英文名称:The technical norms for measurement and test of characteristic parameters of infrared focal plane arrays
标准状态:作废
替代情况:被GB/T 17444-2013代替
中标分类:电子元器件与信息技术>>光电子器件>>L52红外器件
ICS分类:电子学>>31.260光电子学、激光设备
发布部门:国家质量技术监督局
发布日期:1998-07-03
实施日期:1999-05-01
作废日期:2014-04-15
出版日期:2004-04-15
页数:18页

前言

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