GB/T 17626.20-2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波（TEM）波导中的发射和抗扰度试验

标准简介

GB/T17626的本部分给出了利用各种 TEM 波导进行电子和电气设备发射和抗扰度试验的方法。 TEM 波导有开放式(例如,带状线和电磁脉冲(EMP)模拟器)和封闭式(例如,TEM 室),还可以进一步分为单端口、双端口和多端口波导。TEM 波导的适用频率范围取决于具体的试验需求和 TEM 波导的具体类型。 本部分的目的是给出: ———TEM 波导的性能,包括典型的频率范围和对 EUT 尺寸的限制; ———用于电磁兼容(EMC)试验的 TEM 波导的确认方法; ———EUT(即 EUT 壳体和连接电缆)的定义; ———在 TEM 波导中进行辐射发射试验的试验布置、步骤和要求; ———在 TEM 波导中进行辐射抗扰度试验的试验布置、步骤和要求。 注:本部分规定的试验方法用于测量所关心设备的电磁辐射抗扰度和辐射发射。电磁辐射的模拟和测量结果对于 定量确定*终安装使用状态下的电磁效应是不够准确的,规定试验方法的主要目的是保证定性分析电磁效应使用的不同试验设备所得试验结果的重复性。 本部分的目的不是规定适用于任意特定产品或系统的试验方法,而是为所有感兴趣的产品委员会提供通用的基础性参考。对于辐射发射试验,产品委员会应参考国际无线电干扰特别委员会(CISPR)标准1)选择发射限值和试验方法。对于辐射抗扰度试验,由产品委员会负责对其管辖范围内的设备选择合适的试验方法和抗扰度限值。本部分描述的试验方法独立于 GB/T17626.32)。
英文名称：Electromagnetic compatibility—Testing and measurement techniques—Emission and immunity testing in transverse electromagnetic(TEM) waveguide
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容
ICS分类：33.100.10;33.100.20
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2014-12-22
实施日期：2015-06-01
出版日期：2015-06-01
页数：64页

前言

GB/T17626《电磁兼容 试验和测量技术》目前包括以下部分:GB/T17626.1—2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论GB/T17626.2—2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB/T17626.3—2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5—2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.6—2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度GB/T17626.7—2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量及测量仪器导则GB/T17626.8—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9—2011 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10—1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11—2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.12—2013 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验GB/T17626.13—2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验GB/T17626.14—2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.15—2011 电磁兼容 试验和测量技术 闪烁仪 功能和设计规范GB/T17626.16—2007 电磁兼容 试验和测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17—2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.20—2014 电磁兼容 试验和测量技术 横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验GB/T17626.24—2012 电磁兼容 试验和测量技术 HEMP传导骚扰保护装置的试验方法GB/T17626.27—2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28—2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29—2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.30—2012 电磁兼容 试验和测量技术 电能质量测量方法GB/T17626.34—2012 电磁兼容 试验和测量技术 主电源每相电流大于16A 的设备的电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度试验本部分是 GB/T17626的第20部分。本部分按照 GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分等同采用国际标准IEC61000-4-20:2010(第2版) 《电磁兼容(EMC) 第4-20部分:试验和测量技术—横电磁波(TEM)波导中的发射和抗扰度试验》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T4365—2003 电工术语 电磁兼容性[IEC60050(161):1990,IDT]———GB/T6113.101—2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-1部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 测量设备(CISPR16-1-1:2006,IDT)———GB/T6113.104—2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分:无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰(CISPR16-1-4:2005,IDT)———GB/T6113.203—2008 无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第2-3部分:无线电骚扰和抗扰度测量方法 辐射骚扰测量(CISPR16-2-3:2003,IDT)———GB9254—2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法(CISPR22:2006,IDT)本部分做了如下编辑性修改:———5.2.3.2步骤d)的公式引用更正为式(3);———更正了5.3.2中的式(8);———式(A.12)中gi,f的说明更改为“gi,f———由 TEM 波导法测量结果换算得到的 OATS等效场强值,单位为伏每米(V/m)”;———补充了式(1)中量符号的解释;———原文中“verification”和“validation”的使用前后不一致,本部分统一为“TEM 的验证”“场均匀区的确认”;———对参考文献编号进行了更正,并更改了正文中相应引用处的编号。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。本部分起草单位:东南大学、上海出入境检验检疫局、中国电力科学研究院、上海市计量测试技术研究院、中国电子技术标准化研究院、中国计量科学研究院。本部分主要起草人:周忠元、周香、张娴、景莘慧、蒋全兴、李妮、龚增、陈俐、谢鸣。