标准简介
GB/T17626的本部分是关于电气和电子设备对来自9kHz~80 MHz频率范围内射频发射机电磁骚扰的传导抗扰度要求。设备至少通过一条连接电缆(如电源线、信号线、地线等)与射频场相耦合。 本部分的目的是当电气和电子电器设备受到由射频场感应的传导骚扰时,建立一个评估抗扰度性能的公用参考。在GB/T17626的本部分中所规定的测试方法为评估设备或系统对定义的电磁现象的抗扰度表述了一致的方法。英文名称：Electromagnetic compatibility - Testing and measurement techniques - Immunity to conducted disturbances induced by radio-frequency fields
标准状态：作废
替代情况：替代GB/T 17626.6-1998;被GB/T 17626.6-2017代替
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元器件与信息技术综合>>L06电磁兼容
ICS分类：ICS 电信、音频和视频技术>>33.100电磁兼容性(EMC)
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2008-05-20
实施日期：2009-01-01
作废日期：2018-07-01
出版日期：2008-09-01
页数：38页
前言
GB/T17626 《电磁兼容 试验和测量技术》目前包括以下部分:GB/T17626.1-2006 电磁兼容 试验和测量技术 抗扰度试验总论GB/T17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验GB/T17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验GB/T17626.4-2008 电磁兼容 试验和测量技术 电快速瞬变脉冲群抗扰度试验GB/T17626.5-2008 电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验GB/T17626.6-2008 电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度GB/T17626.7-2008 电磁兼容 试验和测量技术 供电系统及所连设备谐波、谐间波的测量和测量仪器导则GB/T17626.8-2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频磁场抗扰度试验GB/T17626.9-1998 电磁兼容 试验和测量技术 脉冲磁场抗扰度试验GB/T17626.10-1998 电磁兼容 试验和测量技术 阻尼振荡磁场抗扰度试验GB/T17626.11-2008 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验GB/T17626.12-1998 电磁兼容 试验和测量技术 振荡波抗扰度试验GB/T17626.13-2006 电磁兼容 试验和测量技术 交流电源端口谐波、谐间波及电网信号的低频抗扰度试验GB/T17626.14-2005 电磁兼容 试验和测量技术 电压波动抗扰度试验GB/T17626.16-2007 电磁兼容 试验与测量技术 0Hz~150kHz共模传导骚扰抗扰度试验GB/T17626.17-2005 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口纹波抗扰度试验GB/T17626.27-2006 电磁兼容 试验和测量技术 三相电压不平衡抗扰度试验GB/T17626.28-2006 电磁兼容 试验和测量技术 工频频率变化抗扰度试验GB/T17626.29-2006 电磁兼容 试验和测量技术 直流电源输入端口电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验本部分是GB/T17626的第6部分。本部分等同采用IEC61000-4-6:2006(第2.2版本)《电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度》。本部分代替GB/T17626.6-1998 《电磁兼容 试验和测量技术 射频场感应的传导骚扰抗扰度》。本部分与GB/T17626.6-1998主要差异在于:1) 修改了耦合和去耦装置的受试设备端口上共模阻抗的校验;2) 修改了耦合装置的受试设备端口上输出电平的设置;3) 修改了用于台式和落地式设备的试验配置;4) 增加了采用耦合和去耦网络注入的程序;5) 增加了当满足共模阻抗要求时的钳注入的程序;6) 增加了直接注入的程序;7) 修改了测试结果的评估;8) 修改了测试报告的要求;9) 修改了图2b)、图5和图10;10) 增加了附录F。本部分的附录A 为规范性附录,附录B至附录F为资料性附录。本部分由全国电磁兼容标准化技术委员会(SAC/TC246)提出并归口。本部分负责起草单位:中国电子科技集团公司第三研究所。本部分主要起草人:朱琳、林京平、曲林、徐嵬、鲁博。本部分所代替标准历次版本的发布情况为:---GB/T17626.6-1998。
