标准简介
本标准规定了半导体管特性图示仪的术语和定义、要求、测试方法、质量检验规则、标识、包装、运输、贮存等。 本标准适用于测试半导体管特性曲线和直流参数的半导体管特性图示仪,也适用于具有插入单元或附属装置的半导体管特性图示仪。 图示仪的产品标准应满足本标准的要求,当图示仪的产品标准要求超出本标准要求时,应以产品标准为准。英文名称：General specification test methods for semiconductor device curve tracers
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 13973-1992;GB/T 13974-1992
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子测量与仪器>>L85电子测量与仪器综合
ICS分类：计量学和测量、物理现象>>17.220电学、磁学、电和磁的测量
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2012-12-31
实施日期：2013-06-01
出版日期：2013-06-01
页数：44页
前言
本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本标准代替GB/T13973—1992《半导体管特性图示仪通用技术条件》、GB/T13974—1992《半导体管特性图示仪测试方法》。本标准纳入并调整了GB/T13973—1992、GB/T13974—1992中适用的内容。在环境适应性中各试验项目按照GB/T6587—2012《电子测量仪器通用规范》中的有关规定。主要变化如下:———增加了“术语和定义”(见第3章);———增加了“基准工作条件”(见5.1);———增加了“检验条件”(见5.2);———增加了“集电*大电流偏转系数”(见5.7.2.1.3);———增加了“精密电阻器参考值”(见表3);———增加了“阶梯电流偏移和阶梯电压偏移”(见5.7.4.6、5.7.4.7)。本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。本标准由全国电子测量仪器标准化技术委员会(SAC/TC153)归口。本标准起草单位:上海新建仪器设备有限公司。本标准主要起草人:吴宗苏、徐正江、朱佩华、徐长风、俞见逸。本标准所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T13973—1992;———GB/T13974—1992。
