标准简介
本标准规定了双*、MOS、结型场效应半导体集成电路模拟开关（以下称为器件）参数测试方法。 本标准适用于半导体集成电路模拟开关，也适用于多路转换器参数的测试。英文名称：Semiconductor integrated circuits—Measuring method of analogue switch
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 14028-1992
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L56半导体集成电路
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2018-03-15
实施日期：2018-08-01
页数：28页
前言
半导体集成电路相关标准
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