标准简介
本标准规定了半导体集成电路模拟锁相环电参数测试方法的基本原理。模拟锁相环与数字电路相同的静态和动态参数测试可参照GB3439《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》。英文名称：General principles of measruing methods of analogue phase-loop for semiconductor integrated circuits
标准状态：现行
中标分类：电子元器件与信息技术>>微电路>>L55微电路综合
ICS分类：电子学>>31.200集成电路、微电子学
发布部门：国家技术监督局
发布日期：1992-01-02
实施日期：1993-08-01
出版日期：2004-08-13
页数：平装16开， 页数：17， 字数：30千字
前言
微电路综合相关标准
.png)
