标准简介
本部分适用于金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器,该类电容器用于电子设备中。 注:具有金属箔和金属化复合电*的电容器也在本部分范围之内。 这类电容器具有取决于使用条件的“自愈特性”。本部分所包括的电容器主要预定用于交流电压和(或)脉冲条件下。*大无功功率为10000var和*大峰值电压为3000V。 本部分中不包括在50Hz时无功功率超过500var和*大峰值电压为2500V 的电容器,除非其*高无功功率在50Hz时低于500var。 本部分不包括大于20μF的电容器。 本部分包括两个性能等级的电容器:1级为长寿命用,2级为一般用途。 本部分不包括抑制电磁干扰用电容器,该类电容器包括在IEC60384-14《电子设备用固定电容器第14部分:分规范 抑制电磁干扰和电源网络连接用固定电容器》中。英文名称：Fixed capacitors for use in electronic equipment—Part 17:Sectional specification—Fixed metallized polypropylene film dielectric a.c. and pulse capacitors
标准状态：现行
替代情况：替代GB/T 14579-1993
中标分类：电子元器件与信息技术>>电子元件>>L11电容器
ICS分类：电子学>>电容器>>31.060.30纸介电容器和塑料膜电容器
发布部门：国家质量监督检验检疫.
发布日期：2013-12-31
实施日期：2014-08-15
出版日期：2014-08-15
页数：32页
前言
《电子设备用固定电容器》系列国家标准分为如下若干部分:———第1部分:总规范(GB/T2693—2001/IEC60384-1:1999);———第2部分:分规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(GB/T7332—2011/IEC60384-2:2005);———第2-1部分:空白详细规范 金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器 评定水平E和EZ(GB/T7333—2012/IEC60384-2-1:2005);———第3部分:分规范 表面安装MnO2 固体电解质钽固定电容器(IEC60384-3:2007);———第3-1部分:空白详细规范 表面安装MnO2 固体电解质钽固定电容器 评定水平EZ(IEC60384-3-1:2007);———第4部分:分规范 固体和非固体电解质铝电解电容器(GB/T5993—2003/IEC60384-4:1998,第1号修改单:2000);———第4-1部分:空白详细规范 非固体电解质铝电解电容器 评定水平EZ(GB/T5994—2003/IEC60384-4:2000);———第4-2部分:空白详细规范 固体(MnO2)电解质的铝电解固定电容器 评定水平EZ(IEC60384-4-2:2007);———第6部分:分规范 金属化聚碳酸酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-6:2005);———第7部分:分规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器(GB/T10185—2012);———第7-1部分:空白详细规范 金属箔式聚苯乙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E(GB/T10186—2012);———第8部分:分规范 1类瓷介固定电容器(GB/T5966—2011/IEC60384-8:2005);———第8-1部分:空白详细规范 1 类瓷介固定电容器 评定水平EZ(GB/T5967—2011/IEC60384-8-1:2005);———第9部分:分规范 2类瓷介固定电容器(GB/T5968—2011/IEC60384-9:2005);———第9-1部分:空白详细规范 2 类瓷介固定电容器 评定水平EZ(GB/T5969—2012/IEC60384-9-1:2005);———第11 部分:分规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-11:2008);———第11-1部分:空白详细规范 金属箔式聚乙烯对苯二甲酸乙二醇酯膜介质直流固定电容器(IEC60384-11-1:2008);———第13部分:分规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器(IEC60384-13:2011);———第13-1部分:空白详细规范 金属箔式聚丙烯膜介质直流固定电容器 评定水平E 和EZ(GB/T10189—2013/IEC60384-13-1:2006);———第14部分:分规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器(GB/T14472—1998/IEC60384-14:2005);———第14-1部分:空白详细规范 抑制电源电磁干扰用固定电容器 评定水平D(GB/T14473—1998/IEC60384-14-1:2005);———第15部分:分规范 非固体或固体电解质钽固定电容器(GB/T7213—2003/IEC60384-15:1982,第1号修改单:1987,第2号修改单:1992);———第15-1部分:空白详细规范 固体电解质钽箔固定电容器 评定水平E(GB/T12794—1991/IEC60384-15-1:1984);———第15-2部分:空白详细规范 固体电解质烧结钽固定电容器 评定水平E(GB/T12795—1991/IEC60384-15-2:1984);———第15-3部分:空白详细规范 固体电解质和多孔阳*钽固定电容器 评定水平E(GB/T7214—2003/IEC60384-15-3:1984);———第16 部分:分规范 金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器(GB/T 10190—2012/IEC60384-16:2005);———第16-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯薄膜介质直流固定电容器 评定水平E 和EZ(GB/T10191—2011/IEC60384-16-1:2005);———第17部分:分规范 金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器(GB/T14579—2013/IEC60384-17:2005);———第17-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器 评定水平E和EZ(GB/T14580—2013/IEC60384-17-1:2005);———第18部分:分规范 表面安装固体和非固体电解质铝电解固定电容器(GB/T17206—1998/IEC60384-18:1993,第1号修改单:1998);———第18-1部分:空白详细规范 表面安装固体(MnO2)电解质铝固定电容器 评定水平EZ(GB/T17207—2012/IEC60384-18-1:2007);———第18-2部分:空白详细规范 非固体电解质片式铝电解质固定电容器 评定水平E(GB/T17208—1998/IEC60384-18-2:1993);———第19 部分:分规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器(GB/T15448—2013/IEC60384-19:2006);———第19-1部分:空白详细规范 表面安装金属化聚乙烯对苯二甲酸酯膜介质直流固定电容器评定水平EZ(GB/T16467—2013/IEC60384-19-1:2005);———第21部分:分规范 表面安装1类多层瓷介固定电容器(GB/T21041—2007/IEC60384-21:2004);———第21-1部分:空白详细规范 表面安装1 类多层瓷介固定电容器(GB/T21038—2007/IEC60384-21-1:2004);———第22部分:分规范 表面安装2类多层瓷介固定电容器(GB/T21042—2007/IEC60384-22:2004);———第22-1部分:空白详细规范 表面安装2 类多层瓷介固定电容器(GB/T21040—2007/IEC60384-22-1:2004)。本部分为《电子设备用固定电容器》的第17部分。本部分按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。本部分代替GB/T14579—1993《电子设备用固定电容器 第17部分:分规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器》。本部分与GB/T14579—1993相比,主要变化如下:———增加了评定水平EZ的要求;———优先气候类别温度中上限类别温度新增105℃;———对50Hz/60Hz交流电压、正弦波电流或电压及脉冲的耐久性试验持续时间新增2000h;———低气压试验气压由8.5kPa改为8kPa;———表5中新增了A0分组的要求;———A1分组IL由S-4改为S-3;———A2分组IL由Ⅱ改为S-3。本部分使用翻译法等同采用IEC60384-17:2005《电子设备用固定电容器 第17部分:金属化聚丙烯薄膜介质交流和脉冲固定电容器》。与本部分中规范性引用的国际文件有一致性对应关系的我国文件如下:———GB/T321—2005 优先数和优先数系(ISO3:1973,IDT)———GB/T2421.1—2008 电工电子产品环境试验 概述和指南(IEC60068-1:1988,IDT)———GB/T2693—2001 电子设备用固定电容器 第1部分:总规范(idtIEC60384-1:1999)———GB/T14580—2013 电子设备用固定电容器 第17-1部分:空白详细规范 金属化聚丙烯膜介质交流和脉冲固定电容器评定水平E和EZ(IEC60384-17-1:2005,IDT)本部分进行了下列编辑性修改:———IEC第2页注2改为注1;———对IEC60384-17:2005 中编辑性错误进行勘误,将表4 中4.7“加速度”值98 m/s2 修订为100m/s2;———对IEC60384-17:2005中编辑性错误进行勘误,在4.12.1.2;4.12.2.2,4.12.3.2中的试验持续时间:补充2000h±24h要求。本部分由中华人民共和国工业和信息化部提出。本部分由全国电子设备阻容元件标准化技术委员会(SAC/TC165)归口。本部分起草单位:成都宏明电子股份有限公司。本部分主要起草人:曹向阳、王倩倩。本部分所代替标准的历次版本发布情况为:———GB/T14579—1993。
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